Представители ЦИС «Сколково» приняли участие в форуме «Два дня патентной аналитики»
В «Сириусе» завершился форум «Два дня патентной аналитики. Патентная аналитика как инструмент управления наукой, технологиями и инновациями». Во второй день эксперты обсуждали использование патентной аналитики для отраслевых направлений. Центр интеллектуальной собственности «Сколково» является официальным партнером мероприятия.
Управление интеллектуальной собственностью является неотъемлемой частью всех процессов развития науки и технологий. На секции «Современные практики управления интеллектуальной собственностью» были рассмотрены вопросы современного состояния и подходов к управлению интеллектуальной собственностью на разных этапах создания результатов интеллектуальной деятельности, а также практика, которую ведут разные организации — крупный и малый бизнес, университеты и некоммерческие организации, институты развития.
Антон Пушков, управляющий партнер ЦИС «Сколково» отметил, что полноценный патентный анализ должен быть основан не только на заявках и патентах. «Необходим рыночный и экспертный анализ, поскольку трактовка результатов зависит от понимания области науки и техники. Для этого в "Сколково" мы привлекаем более двух тысяч внешних экспертов» — добавил Пушков.
Секция «Скаутинг и трансфер технологий» представила всё многообразие подходов, техник и проектов по выявлению перспективных технологий и продуктов. Главным фокусом дискуссии стала практическая ценность и области применения результатов выявления технологий и технологических трендов.
Руководитель патентной практики ЦИС «Сколково» Дмитрий Котлов в выступлении «Продвинутый анализ выявленных технологических трендов как средство поиска новых сфер применения технологии» подчеркнул, что успех патентной аналитики очень сильно зависит от того, насколько точно изначально поставлена задача. «Если у заказчика не сложилось понимание задачи, понимание того, как он применит ее результаты, то велика вероятность, что патентная аналитика будет бесполезной».
«При проведении патентной аналитики мы осуществляем поиск с привлечением максимально широкого массива данных, включая поиск по рефератам и цитированию. Мы анализируем динамику патентной активности в данной области, и при выявлении каких-то аномалий, уже эти паттерны документов подвергаются более глубокому анализу с привлечением экспертов по направлению» — добавил Котлов.
Всего за два дня форума состоялось два пленарных заседания, 14 секций, круглых столов и мастер-классов. ЦИС «Сколково» является официальным партнером мероприятия. Организаторами форума выступили Роспатент, Федеральный институт промышленной собственности (ФИПС), Образовательный фонд «Талант и успех» и Научно-технологический университет «Сириус». Мероприятие подобного масштаба по патентной аналитике прошло в России впервые.
Запись всех секций форума доступна по ссылке.