Микроскоп Tescan Solaris, установленный в центре коллективного пользования «Визуализация высокого разрешения», позволит решать сложнейшие задачи на стыке наномеханики и наноионики. В основе технологии – использование двух сфокусированных лучей...
В Сколтехе прошла научная сессия «Материалы для современной микроэлектронной элементной базы». Инициаторами сессии стали Научный совет РАН по физико-химическим основам полупроводникового материаловедения, АО «НИИМЭ», Сколтех и кластер...